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  • 2021

    12-20

    普通掃描電鏡是一種利用電子進(jìn)行成像的顯微鏡,由英文ScanningElectronMicroscope直譯得名,簡(jiǎn)稱為掃描電鏡。由于電子的德布羅意波長(zhǎng)遠(yuǎn)小于可見(jiàn)光的波長(zhǎng),掃描電鏡具有比光學(xué)顯微鏡高得多圖像分辨率,使我們擁有在亞原子尺度上觀察微觀世界的能力。掃描電鏡噴金幾乎可以對(duì)所有類型的樣本進(jìn)行圖像處理,陶瓷、金屬、合金、半導(dǎo)體、聚合物、生物樣品等。然而,某些特定類型的樣品更具有挑戰(zhàn)性,并且需要操作者進(jìn)行額外的樣品制備,以便借助掃描電鏡噴金收集高質(zhì)量圖片。這些額外的步驟包括在...

  • 2021

    11-10

    臺(tái)式電鏡是一個(gè)復(fù)雜的系統(tǒng),濃縮了電子光學(xué)技術(shù)、真空技術(shù)、精細(xì)機(jī)械結(jié)構(gòu)以及現(xiàn)代計(jì)算機(jī)控制等技術(shù)。是在加速高壓作用下將電子槍發(fā)射的電子經(jīng)過(guò)多級(jí)電磁透鏡匯集成細(xì)小(直徑一般為1~5nm)的電子束(相應(yīng)束流為10-11~10-12A)。在末級(jí)透鏡上方掃描線圈的作用下,使電子束在試樣表面做光柵掃描(行掃+幀掃)。入射電子與試樣相互作用會(huì)產(chǎn)生二次電子、背散射電子、X射線等各種信息。臺(tái)式電鏡直觀的用戶界面、簡(jiǎn)便的觸摸屏控制,以及各項(xiàng)自動(dòng)調(diào)節(jié)功能,使用戶僅需極少的培訓(xùn),就可以得到高質(zhì)量的圖像...

  • 2021

    11-2

    近年來(lái),我國(guó)國(guó)民經(jīng)濟(jì)的持續(xù)高速發(fā)展刺激了對(duì)鋼鐵的需求,同時(shí)也拉動(dòng)了煉焦生產(chǎn)的高速度發(fā)展。焦炭產(chǎn)能的快速擴(kuò)張導(dǎo)致煉焦煤供應(yīng)緊張,煉焦煤價(jià)格大幅度升高,又由于高爐大型化、噴吹煤粉等技術(shù)的應(yīng)用,對(duì)焦炭質(zhì)量提出了更高的要求,致使優(yōu)質(zhì)煉焦煤供應(yīng)更加緊張。同時(shí),由于焦炭產(chǎn)能過(guò)剩,焦炭?jī)r(jià)格低迷。焦化行業(yè)面臨著煤炭資源供應(yīng)緊張和經(jīng)濟(jì)效益低下的雙重壓力,如何合理利用煤炭資源,提高企業(yè)經(jīng)濟(jì)效益,滿足鋼鐵工業(yè)持續(xù)發(fā)展是擺在焦化企業(yè)面前的緊迫任務(wù),也是長(zhǎng)期任務(wù)。煤巖分析系統(tǒng)是用于煤田地質(zhì)勘探、煤礦開(kāi)...

  • 2021

    10-23

    掃描電子顯微鏡,簡(jiǎn)稱為掃描電鏡,英文縮寫為SEM(ScanningElectronMicroscope)。它是用細(xì)聚焦的電子束轟擊樣品表面,通過(guò)電子與樣品相互作用產(chǎn)生的二次電子、背散射電子等對(duì)樣品表面或斷口形貌進(jìn)行觀察和分析。SEM已廣泛應(yīng)用于材料、冶金、礦物、生物學(xué)等領(lǐng)域。SEM掃描電鏡由電子槍、電磁透鏡、掃描線圈和樣品室等部件組成。作用:獲得掃描電子束、作為產(chǎn)生物理信號(hào)的激發(fā)源。為了獲得較高的信號(hào)強(qiáng)度和圖像分辨率,掃描電子束應(yīng)具有較高的亮度和盡可能小的束斑直徑。電子槍利用...

  • 2021

    10-11

    低溫環(huán)境XRD已成為了解溫度、氣氛或壓力對(duì)材料影響*的技術(shù)。除了與研究相關(guān)外,這些知識(shí)對(duì)于優(yōu)化技術(shù)流程和進(jìn)行工業(yè)質(zhì)量控制也至關(guān)重要。通過(guò)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)樣品在不同溫度條件下的結(jié)晶情況,分析其衍射圖譜可以得到不同溫度條件下的半峰寬、強(qiáng)度、晶面間距以及晶粒尺寸等信息,從而研究樣品的相變、結(jié)晶度變化規(guī)律。低溫環(huán)境XRD采用環(huán)境降溫的方式,溫度探頭測(cè)試的為內(nèi)層密封罩內(nèi)低溫惰性氣體的溫度,當(dāng)腔體內(nèi)溫度達(dá)到平衡后,樣品表面的溫度近似與腔體內(nèi)溫度相等,故此時(shí)監(jiān)測(cè)的溫度為樣品表面溫度,測(cè)試的圖譜為該...

  • 2021

    9-29

    激光拉曼光譜儀分析是一種非破壞性的微區(qū)分析手段,液體、粉末及各種固體樣品均不需特殊處理即可用于拉曼光譜的測(cè)定。拉曼光譜可以單獨(dú),或與其他技術(shù)(如X衍射譜、紅外吸收光譜、中子散射等)結(jié)合起來(lái)應(yīng)用,方便地確定離子、分子種類和物質(zhì)結(jié)構(gòu)。其應(yīng)用主要是對(duì)各種固態(tài)、液態(tài)、氣態(tài)物質(zhì)的分子組成、結(jié)構(gòu)及相對(duì)含量等進(jìn)行分析,實(shí)現(xiàn)對(duì)物質(zhì)的鑒別與定性。激光拉曼光譜儀的主要部件有:激光光源、樣品池、單色器、光電檢測(cè)器、記錄儀和計(jì)算機(jī)。1.激光光源:多用連續(xù)式氣體激發(fā)器,有主要波長(zhǎng)為632.8nm的He...

  • 2021

    9-24

    臺(tái)式電鏡SEM可以對(duì)器件的尺寸和一些重要的物理參數(shù)進(jìn)行分析,如結(jié)深、耗盡層寬度少子壽命、擴(kuò)散長(zhǎng)度等等,也就是對(duì)器件的設(shè)計(jì)、工藝進(jìn)行修改和調(diào)整。臺(tái)式掃描電鏡二次電子像可以分析器件的表面形貌,結(jié)合縱向剖面解剖和腐蝕,可以確定PN結(jié)的位置、結(jié)的深度。利用臺(tái)式掃描電鏡束感生電流工作模式,可以得到器件結(jié)深、耗盡層寬度、MOS管溝道長(zhǎng)度,還能測(cè)量擴(kuò)散長(zhǎng)度、少子壽命等物理參數(shù)。對(duì)于1nm以下的短溝道器件檢測(cè),可用類似于測(cè)量耗盡層寬度的方法,電子束對(duì)MOS場(chǎng)效應(yīng)管進(jìn)行掃描,得到二條束感生電流...

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